Zeta100電位納米粒度分子量分析儀制備樣品的兩個(gè)難點(diǎn)

　　Zeta100電位納米粒度分子量分析儀實(shí)質(zhì)上是利用運算放大器進(jìn)過(guò)運算，使參比電極與研究電極之間的電位差，嚴格的等于輸入的指令信號電壓Vi。用運算放大器構成的恒電位儀，在電解池、電流取樣電阻以及指令信號的連接方式上有很大靈活性?？梢愿鶕娀瘜W(xué)測試的要求選擇或設計各種類(lèi)型的恒電位儀電路。

 

　　在腐蝕實(shí)驗中，工作電極就是腐蝕金屬樣品。一般來(lái)講，工作電極并非被研究金屬材料的全部結構，而只需使用一小片，這一點(diǎn)與腐蝕掛片法類(lèi)似。工作電極可以是裸金屬或者帶涂層或鍍膜的金屬。

 

　　在Zeta100電位納米粒度分子量分析儀測試過(guò)程中所需的小光強為20kcps。因此低濃度取決于相對折光指數差（粒子和溶劑間的折光指數差值）和粒子尺寸。粒子的尺寸越大所產(chǎn)生的散射光越強，所需的濃度也就越低。對于折光指數差較大的樣品，譬如TiO2粒子的水性懸浮液，TiO2的折光指數為2.5，與水的折光指數差較大，有較強的散射能力。

 

　　因此對于300nm的TiO2粒子，小濃度可以為10-6w/v%。對于折光指數差很小的樣品，比如蛋白質(zhì)溶液，低濃度會(huì )高很多。通常低濃度需要在0.1-1w/v%之間才能有足夠的散射光強進(jìn)行Zeta電位測量。終，對于特定樣品進(jìn)行一個(gè)成功的Zeta電位測量的低濃度，應該由試驗實(shí)際測量得到。

 

　　zeta電位儀樣品制備有兩個(gè)難點(diǎn)：

 

　　1、保證檢測體系和實(shí)際體系的一致性，包括：pH、系統的總離子濃度、存在的任何表面活性劑或聚合物的濃度；

 

　　2、合適的濃度。