ZETA電位儀可測量濃度低的溶液到濃度高的溶液的ZETA電位粒徑及分子量。粒子表面存在的凈電荷，影響粒子界面周?chē)鷧^域的離子分布，導致接近表面抗衡離子濃度增加。于是，每個(gè)粒子周?chē)嬖陔p電層。
繞粒子的液體層存在兩部分：一是內層區，稱(chēng)為緊密層，其中離子與粒子緊緊地結合在一起；另一個(gè)是擴散層，其中離子松散地與粒子相吸附。
在分散層內，有一個(gè)抽象邊界，在邊界內的離子和粒子形成穩定實(shí)體。當粒子運動(dòng)時(shí)，在此邊界內的離子隨著(zhù)粒子運動(dòng)，但此邊界外的離子不隨著(zhù)粒子運動(dòng)。這個(gè)邊界稱(chēng)為流體力學(xué)剪切層或滑動(dòng)面。在這個(gè)邊界上存在的電位即稱(chēng)為ZETA電位。
談粒度不得不說(shuō)ZETA電位，很多微納米產(chǎn)品都需要表征其穩定性，粒度大小、ZETA電位、ph值、溫度、產(chǎn)品配方等會(huì )影響樣品穩定性，而ZETA電位是樣品穩定性比較直觀(guān)的一個(gè)參數。
ZETA電位是納米材料的一種重要表征參數?，F代儀器可以通過(guò)簡(jiǎn)便的手段快速準確地測得。大致原理為：通過(guò)電化學(xué)原理將ZETA電位的測量轉化成帶電粒子淌度的測量，而粒子淌度的測量測是通過(guò)動(dòng)態(tài)光散射，運用波的多普勒效應測得。
雙電層的厚度與溶液中的離子濃度有關(guān)，可根據介質(zhì)的離子強度進(jìn)行計算，離子強度越高，雙電層愈壓縮同，離子的化合價(jià)也會(huì )影響雙單層的厚度，三價(jià)離子(Al3+)將會(huì )比單價(jià)離子(Na+)更多的壓縮雙電層。
研究樣品中的添加劑濃度對產(chǎn)品ZETA電位的影響可為研發(fā)穩定配方的產(chǎn)品提供有用的信息，樣品中已知雜質(zhì)對ZETA電位的影響可作為研制抗絮凝的產(chǎn)品的有力工具。
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